芯片的前世今生

時間：2020-04-10

作者：儀準科技（北京）有限公司

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詞條說明
探針臺支援湖北
儀準科技向湖北半導體產業(yè)伸出援助之手援鄂行動愛在傳遞儀準科技成立至今已逾十載，十年來在國家政策幫扶和半導體行業(yè)關愛下茁壯成長，砥礪前行！疫情當下，中國經濟發(fā)展將受到短暫的影響。儀準科技心系國家，將愛傳遞，特向受影響較大的湖北省援助**百萬的探針臺。援助方案分兩部分，總****過100**民幣1、免費捐贈探針臺產品（5臺）。 A、 ADVANCED PW-400-PCKG 3套每套配置如下：
2019年全球半導體市場不景氣，中國表現良好
2019年**半導體市場陷入萎縮，而中國可圈可點經常會有人問半導體產業(yè)是什么樣的一種產業(yè)？魏少軍教授用奧地利經濟學家約瑟夫·熊彼得的一句話來引出，那就是“創(chuàng)新不是一個技術概念，而是一個經濟概念”。半導體或者芯片產業(yè)，恰恰是一個創(chuàng)新驅動的產業(yè)，它的發(fā)明較終變成了錢，它是靠創(chuàng)新的方式來發(fā)展。所以它是個創(chuàng)新驅動的產業(yè)。了解了半導體產業(yè)的形式之后，再來看下半導體產業(yè)的發(fā)展情況。以史為鑒，從1987年到
半導體技術公益課：芯片流片前的物理驗證
半導體技術公益課 2020年4月18日（周六）題目: 芯片流片前的物理驗證簡介: 1.**部分drc； 2.*二部分lvs；時長: 10分鐘主講人: Allen 產品工程師時間 : 11:00-11:10 題目：芯片失效分析方法及流程簡介：失效分析方法；失效分析流程；失效分析案例；失效分析實驗室介紹。分享時長：45分鐘主講人：趙俊紅就職于科委檢測中心，集成電
芯片分析方法
1.OM 顯微鏡觀測，外觀分析 2.C-SAM（超聲波掃描顯微鏡）（1）材料內部的晶格結構，雜質顆粒，夾雜物，沉淀物，（2）內部裂紋。（3）分層缺陷。（4）空洞，氣泡，空隙等。 3. X－Ray 檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接，開路、短路或不正常連接的缺陷，封裝中的錫球完整性。（這幾種是芯片發(fā)生失效后首先使用的非破壞性