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芯片開封機分用化學腐蝕和激光開封兩種,區(qū)別是激光開封比較簡單,而且開封銅線邦定的效果好 開封指去除ic封膠,同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備。也稱為開蓋,開帽,去封范圍:普通封裝COB、BGA 陶瓷、金屬等其它特殊封裝。 芯片IC半導體元器件開封機decap酸開封機自動開封機激
突發(fā)!北方華創(chuàng)、長江存儲等31家被拉入UVL清單!
失效分析 趙工?半導體工程師?2022-10-08 10:00?發(fā)表于北京剛剛,芯榜消息:根據(jù)美國聯(lián)邦公報,拜登**宣布了對中國獲得美國半導體技術的新限制,并增加了旨在阻止中國推動發(fā)展自己的芯片產業(yè)和提升該國軍事能力的措施。?據(jù)悉,美國商務部在其認為“未經證實”(UVL)的公司名單中添加了更多名稱,包括31家中國實體。這意味著美國供應商在向這些實體銷售技術時
作為半導體人、電子元器件銷售或采購,你真的知道什么是芯片、半導體和集成電路嗎?知道它們之間的關系與區(qū)別嗎? 一、什么是芯片 芯片,又稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成電路(integrated circuit, IC),是指內含集成電路的硅片,體積很小,常常是計算機或其他電子設備的一部分。 芯片(chip)就是半導體元件產品的統(tǒng)稱,是 集成電路(IC, int
芯片失效分析檢測方法匯總 失效分析 趙工 1 、C-SAM(超聲波掃描顯微鏡),無損檢查:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 德國 2 、X-Ray(這兩者是芯片發(fā)生失效后首先使用的非破壞性分析手段),德國Fein 微焦點Xray用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷. 參數(shù):標準檢測
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