掃描狹縫式光束分析儀與相機(jī)式光斑分析儀的區(qū)別

時(shí)間：2022-06-14作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：450

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• Alphalas的UPD超快光電探測(cè)器的功率密度計(jì)算

  在使用Alphalas?UPD超快光電探測(cè)器時(shí)，對(duì)于所有遇到光電探測(cè)器沒有信號(hào)或信號(hào)非常小這種問題的客戶，經(jīng)過事實(shí)證明，沒有任何例外的原因都是落在光電探測(cè)器芯片敏感區(qū)的輸入光功率太低。用功率僅為1 mW的633nm激光對(duì)UPD-50-SP進(jìn)行測(cè)試。首先，我們參考UPD超快光電探測(cè)器UPD-50-SP的靈敏度曲線。在633nm，靈敏度為0.5 A/W（或0.5 mA/mW）。因?yàn)榫哂?mW

• Phasics SID4波前傳感器的應(yīng)用簡(jiǎn)介

  從學(xué)術(shù)實(shí)驗(yàn)室到私營(yíng)公司的研發(fā)計(jì)劃，從工業(yè)質(zhì)量控制到生產(chǎn)線集成，Phasics獨(dú)特的高分辨率波前傳感器可以實(shí)現(xiàn)波前傳感器激光測(cè)量，波前分析儀光學(xué)計(jì)量，波前定量相位成像并且在非常廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中運(yùn)行。如：激光測(cè)量、光學(xué)計(jì)量學(xué)、定量相位成像和材料檢測(cè)領(lǐng)域等等。本篇文章主要介紹了Phasics SID4波前傳感器的應(yīng)用領(lǐng)域。Phasics SID4波前傳感器的應(yīng)用領(lǐng)域PHASICS SID4波前傳感器的應(yīng)

• 濾光片的入射角（AOI）和偏振

  入射角(Angle of Incidence，簡(jiǎn)稱AOI)是指濾光片相對(duì)于入射光的傾斜度，其中最簡(jiǎn)單的一種情況就是入射光垂直于濾光片，此時(shí)入射角為0°。每當(dāng)非正常入射光線照射到兩種不同介質(zhì)（如空氣和玻璃）之間的界面時(shí)，斯涅耳定律（光的折射規(guī)律的定律，即光入射到不同介質(zhì)的界面上會(huì)發(fā)生反射和折射）表明，當(dāng)光線進(jìn)入第二種介質(zhì)時(shí)，入射光線的角度會(huì)發(fā)生變化（圖?2）。變化的程度取決于各自的折射率：

• SPECIM高光譜成像用于石油和礦物勘探

  二十年來(lái)，高光譜成像一直被用于從空中對(duì)大面積地質(zhì)表面區(qū)域進(jìn)行石油與礦產(chǎn)勘測(cè)。現(xiàn)在，它越來(lái)越多地作為一種快速可靠的礦物分析方法應(yīng)用于巖心和其他地質(zhì)樣品中。用于石油和礦產(chǎn)勘探的高光譜成像揭示了人眼在傳統(tǒng)測(cè)井中看不到的蝕變模式。幾乎所有的蝕變礦物都能在紅外區(qū)被客觀一致地識(shí)別和填圖。近年來(lái)在基于高光譜成像技術(shù)數(shù)據(jù)的礦物精細(xì)識(shí)別、高光譜影像地質(zhì)環(huán)境信息反演、行星地質(zhì)探測(cè)等方面取得了突出的進(jìn)展。高光譜遙感在地