集成電路IC卡高溫測(cè)試

時(shí)間：2023-07-04作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：208

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 恒溫恒濕試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)的選擇

  恒溫恒濕試驗(yàn)箱可選擇-40°C型單級(jí)制冷循環(huán)，也可采用級(jí)聯(lián)制冷循環(huán)系統(tǒng)，但單級(jí)制冷循環(huán)依賴于小型膨脹閥開(kāi)度。則壓實(shí)機(jī)會(huì)減少制冷劑流量，限制流量以降低蒸騰壓力（約0.7個(gè)大氣壓）以達(dá)到較低的蒸發(fā)溫度，這樣的計(jì)劃是通過(guò)犧牲系統(tǒng)的冷卻能力（冷卻能力僅為規(guī)格的約0.7至0.8）來(lái)實(shí)現(xiàn)的，從而導(dǎo)致制冷功率低，壓實(shí)機(jī)的負(fù)荷增加，壓實(shí)機(jī)的線圈容*熱，影響壓實(shí)機(jī)的壽命。恒溫恒濕試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)規(guī)劃：當(dāng)**-20°

• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試 ? ? ? ? 宏展擁有一個(gè)專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu)，具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗(yàn)室，聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類(lèi)人才和***，強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)**著國(guó)內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向．現(xiàn)目前公司具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱、工業(yè)烤

• 如何解決高低溫試驗(yàn)箱不降溫、降溫慢？

  高低溫試驗(yàn)箱制冷方式有兩種，一種液氮制冷，這種通常用于深冷低溫箱（如溫度為-100℃、-200℃甚限低溫時(shí)），另一種為機(jī)械制冷，采用壓縮機(jī)進(jìn)行冷卻，這種制冷方式在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備行業(yè)應(yīng)用廣泛，本文中高低溫試驗(yàn)箱不降溫、降溫慢應(yīng)如何解決就是針對(duì)機(jī)械式制冷的解決方法。高低溫試驗(yàn)箱出現(xiàn)不降溫情況時(shí)，首先應(yīng)把環(huán)境溫度降至5℃～28℃之間，然后檢測(cè)查是不是由于風(fēng)冷式冷凝器因使用時(shí)間較長(zhǎng)，累積灰塵太厚的原因，如果

• 電子元器件主要的檢測(cè)項(xiàng)目

  電子元器件主要有三類(lèi)檢測(cè)項(xiàng)目：1.常規(guī)測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等；根據(jù)元器件的規(guī)格書(shū)測(cè)試基本參數(shù)，如三極管，要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目，部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。2.可靠性測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn)；根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書(shū)的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn)，如三極管，要進(jìn)行高溫試驗(yàn)