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ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱
ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱特點(diǎn) 1. 1. ESS系列允許加速產(chǎn)品溫度變化速率,通過產(chǎn)品置于高速氣流的環(huán)境; 2. 2. ESS系列環(huán)境試驗(yàn)箱是專為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用而設(shè)計(jì)的,可根據(jù)您的具體需要生產(chǎn)制造環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱; 3. 3. 進(jìn)口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩(wěn)定,溫度過沖小,操作方便、簡(jiǎn)單; 4. 4. 采用世界**的壓縮機(jī)+
恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)注意事項(xiàng) ??????? 恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)又稱模擬環(huán)境試驗(yàn)機(jī),其可靠度、精確度和穩(wěn)定度較為重要。 ??????? 本公司生產(chǎn)之恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)是以用戶滿意為宗旨,以產(chǎn)品質(zhì)優(yōu)耐用為目的,積累多年豐富生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),廣泛吸收用戶意見,經(jīng)多次技術(shù)改進(jìn)之優(yōu)良產(chǎn)品
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用
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