礦石的金屬成份分析方法

時(shí)間：2020-08-10作者：成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：1178

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 金屬材料成份分析儀

  ? ? ? ? ? ? ? ?為目前市場(chǎng)上提供體積最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的對(duì)材料進(jìn)行可靠性鑒別(PMI)和確認(rèn)的便攜式多用途掌上型X射線熒光光譜分析儀，該分析儀可適用于任何場(chǎng)所，從而確保材料質(zhì)量，確保材料無(wú)放射性， 在對(duì)幾種常見(jiàn)的合金進(jìn)行分析時(shí)，測(cè)試時(shí)間可持續(xù)20秒鐘?？焖俜治龀掷m(xù)測(cè)試間是2至3秒。該分

• 金屬化學(xué)成份分析標(biāo)準(zhǔn)

  1.ALPHA-2000合金分析儀是現(xiàn)在最先進(jìn)的便攜式合金分析系統(tǒng)，它使用極小的X射線管代替放射性同位素來(lái)解決更換資源和放射性擴(kuò)散的問(wèn)題。2.Innov-X ALPHA-2000合金分析儀無(wú)危險(xiǎn)原料限制，可以應(yīng)用到任何地方或者隨意運(yùn)輸。3.Innov-X ALPHA-2000合金分析儀具有小型的電腦軟件平臺(tái)，對(duì)合金分析非常靈活。用戶可自編輯升級(jí)的元數(shù)庫(kù)，用戶可自定義的分析和分類(lèi)方法，多種數(shù)據(jù)輸入，

• 成都透射電鏡檢測(cè)

  透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或*微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長(zhǎng)*短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光和紫外光短得多，并且電子束的波長(zhǎng)與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也

• 什么情況下需要做電磁兼容檢測(cè)

  一般情況下，以下情況下需要進(jìn)行電磁兼容檢測(cè)：產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)階段：在開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)新的電子設(shè)備或系統(tǒng)時(shí)，需要進(jìn)行電磁兼容檢測(cè)來(lái)評(píng)估設(shè)備在電磁環(huán)境中的性能和兼容性。這有助于及早發(fā)現(xiàn)和解決潛在的電磁兼容問(wèn)題，并確保產(chǎn)品符合相關(guān)的法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求。產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制階段：在電子設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程中，需要進(jìn)行電磁兼容檢測(cè)來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的質(zhì)量和性能是否符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。這有助于防止生產(chǎn)缺陷和質(zhì)量問(wèn)題，并確保產(chǎn)品達(dá)到預(yù)期的電磁兼