X射線測厚儀校正方法

時間：2018-09-22作者：蘇州百測檢測科技有限公司瀏覽：1372

蘇州百測檢測科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測儀器,x射線鍍層測厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• X射線測厚儀校正方法

  X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器，通常x射線測厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀，測膜儀，鍍層測試儀，x射線鍍層測厚儀，金屬測厚儀，xrf測厚儀，x-ray測厚儀，x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 手持式光譜分析儀的用途

  手持式XRF光譜分析儀采用少見配件SDD探測器和高分辨率X射線光管。 **級高強(qiáng)度保護(hù)箱，有良好的防潮防震防壓三防功能，緊急狀況時可用作救援工具 馬蹄形一體大電池: 27000mAh容量，延長測試時間3倍，還可當(dāng)座式支架使用 便攜式藍(lán)牙打印機(jī)，實(shí)現(xiàn)原位現(xiàn)場打印數(shù)據(jù) 一拖四車載充電器，野外延長充電次數(shù) 便攜式及座式支架可供客戶使用更多選擇 EXPLORER 3000 手持式XRF有害元素分析儀 探險

• 便攜式光譜儀性能

  便攜式光譜分析儀采用小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測器（世界上較好的探測器）及微型數(shù)字信號多道處理器三大**技術(shù)的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使手持式儀器具有與臺式相近的測試性能。體積很小，便攜、方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析。 無損檢測 整個檢測過程被測樣品無任何損壞 快速檢測 儀器既可手持1-2秒對樣品進(jìn)行快速測試，也能使用座

• X射線熒光光譜儀的技術(shù)指標(biāo)

  X射線熒光光譜儀的技術(shù)指標(biāo)如下： 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U） 分析檢出限可達(dá)1ppm 分析含量一般為1ppm到99.99％ 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 多變量非線性回歸程序 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃ 電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 能量分辨率：160±5eV 外觀尺寸： 550×416×333mm 樣品腔尺寸：460×298×98mm