環(huán)保測試儀介紹

時間：2018-07-24作者：蘇州百測檢測科技有限公司瀏覽：340

蘇州百測檢測科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測儀器,x射線鍍層測厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 光電直讀光譜儀介紹

  光電直讀光譜儀的全譜分析技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；分析速度快捷，20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時間及標(biāo)線，使儀器用較短的時間達(dá)到較優(yōu)的分析效果； 金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。 1、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室

• XRF環(huán)保ROHS測試儀的優(yōu)缺點(diǎn)

  XRF的優(yōu)點(diǎn):a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)較為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。c)

• 能量色散x射線熒光光譜儀詳情

  作為國內(nèi)**家從事能量色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和生產(chǎn)的企業(yè)，儀器以精準(zhǔn)和穩(wěn)定的特性，良好**十多年。從成立開始，儀器就是中國XRF儀器的**者，開拓者！EDX4500系列是儀器能量色散XRF儀器的科研結(jié)晶，**的抽真空測試技術(shù)，能夠很好的對輕元素進(jìn)行分析和測試。 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 元素含量分析范圍： ppm—**（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一

• 鍍層測厚儀工作原理

  利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型號中進(jìn)行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號，適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測量的型號。 兼顧易