臺(tái)式涂鍍層測厚儀儀器分析優(yōu)勢

時(shí)間：2023-05-08作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：87

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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• 全自動(dòng)多功能XRF分析儀及應(yīng)用鄰域

  全自動(dòng)多功能XRF分析儀，搭載全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)和影像識(shí)別功能，既能檢測納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及全元素成分分析。接下來和全自動(dòng)多功能XRF分析儀優(yōu)勢及應(yīng)用鄰域。全自動(dòng)多功能XRF分析儀優(yōu)勢：1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，較小測量面積達(dá)0.03mm2;2)擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍

• 金屬化鍍鎳測厚的新前景

  在現(xiàn)代工業(yè)領(lǐng)域中，陶瓷金屬化是一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，用于賦予陶瓷材料金屬性能，增強(qiáng)其導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性以及機(jī)械強(qiáng)度，從而拓展其應(yīng)用范圍。陶瓷金屬化旨在充分發(fā)揮陶瓷和金屬的優(yōu)勢，將兩者**結(jié)合，為各行各業(yè)帶來了全新的可能性。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，陶瓷金屬化鍍鎳的質(zhì)量控制和測厚過程卻面臨著一系列挑戰(zhàn)。?陶瓷金屬化是通過在陶瓷表面沉積金屬層，實(shí)現(xiàn)材料性能改善的過程。這種技術(shù)可以賦予陶瓷材料更好的導(dǎo)電性、導(dǎo)熱

• 能量色散X熒光光譜儀的原理是什么？一文帶你了解

  能量色散X熒光光譜儀（Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱ED-XRF）是一種用于材料分析的儀器，它通過測量樣品吸收入射X射線后產(chǎn)生的熒光輻射來確定樣品中各種元素的含量。其原理涉及X射線的產(chǎn)生、樣品的激發(fā)和熒光輻射的檢測。以下是ED-XRF的工作原理的基本步驟：?1. X射線產(chǎn)生：ED-XRF儀器通過使用X射線管產(chǎn)生X射

• ROHS檢測儀的工作原理及其優(yōu)點(diǎn)

  ROHS檢測儀的工作原理元素的原子在激發(fā)光源的作用下發(fā)射譜線，道線經(jīng)光柵分光后形成光譜，每種元素都有自己的特征譜線，譜線的強(qiáng)度可以代表試樣中元素的含量，用光電檢測器將譜線的輻射能轉(zhuǎn)換成電能，檢測揄出的信號(hào)，經(jīng)加工處理，在讀出裝置上顯示出來。然后根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制作的分析曲線，得出分析試樣中待測元素的含量。ROHS檢測儀如今在各個(gè)行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛，一六儀器作為ROHS檢測儀生產(chǎn)廠家近些年也受到了