全自動(dòng)多功能XRF分析儀及應(yīng)用鄰域

時(shí)間：2023-02-28作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：91

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產(chǎn)品細(xì)節(jié)?使用注意事項(xiàng)

  XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)**多點(diǎn)測量，測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產(chǎn)品細(xì)節(jié)：高精密移動(dòng)裝置快速精準(zhǔn)定位;自動(dòng)

• 客戶采購光譜測厚儀最想了解的問題

  光譜測厚儀是一種用于測量薄膜或涂層厚度的儀器。它通過分析材料表面反射的光譜來測量其厚度，是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中的儀器之一。對于客戶來說，采購光譜測厚儀時(shí)較想了解的問題有哪些呢?首先，客戶較關(guān)心的是光譜測厚儀的準(zhǔn)確度。畢竟，測量結(jié)果的準(zhǔn)確性直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。因此，客戶需要了解光譜測厚儀的測量范圍、測量精度和重復(fù)性等技術(shù)參數(shù)，并通過檢測樣品來驗(yàn)證其準(zhǔn)確性。其次，客戶也很關(guān)心光譜測厚儀的使用方法和操

• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測器以后，對X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進(jìn)行快速同時(shí)測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的

• 熒光光譜測厚儀選擇要注意哪些要素

  熒光光譜分析儀在我們生產(chǎn)生活的方方面面都有應(yīng)用。隨著技術(shù)的進(jìn)步，熒光光譜分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣泛。市面上的熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家越來越多，我們在選擇熒光光譜測厚儀的時(shí)候難免蒙圈，那熒光光譜測厚儀在選擇的時(shí)候需要注意哪些要素呢?今天就個(gè)一六儀器的小編來了解一下吧。光譜儀測量結(jié)果是否可靠，第一步是要求測試 激發(fā)用的X熒光要全部照射在被測物目標(biāo)點(diǎn)上， 所以必須控制好光斑大小，那么較小測量面積 就成了