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半自動晶圓減薄真空非接觸貼膜機(jī)ATW-08 半自動晶圓減薄真空非接觸貼膜機(jī)ATW-08性能 晶圓收益 ≥99.9%; 貼膜質(zhì)量 沒有氣泡(不包括灰塵顆粒氣泡); 每小時產(chǎn)能 ≥80片晶圓; 更換產(chǎn)品時間 ≤5分鐘 半自動晶圓減薄真空非接觸貼膜機(jī)ATW-08規(guī)格參數(shù): 晶圓尺寸 4”&5”&6”&8”晶圓; 晶圓厚度 300~750微米; 膠膜種類 藍(lán)膜或者UV膜; 寬度:120~240毫米; 長度
【衡鵬代理】超薄晶圓臨時鍵合wafer bonder 超薄晶圓臨時鍵合應(yīng)用于晶圓臨時性鍵合/解鍵合(Wafer Bonding/Debonding)工藝 超薄晶圓臨時鍵合wafer bonder特點(diǎn): 4”-8”/8”-12”晶圓適用,支持極薄化晶圓的鍵合。 可選真空熱壓/UV/激光等鍵合方式 鍵合機(jī)智能測繪料籃內(nèi)晶圓,兼容晶圓料籃、晶圓盒裝卸料。 鍵合機(jī)支撐晶圓、產(chǎn)品晶圓進(jìn)行自動對準(zhǔn) 超薄晶圓臨
浸潤平衡法沾錫天平GEN 3適用國際測試標(biāo)準(zhǔn)
浸潤平衡法沾錫天平GEN 3適用國際測試標(biāo)準(zhǔn) GEN 3沾錫天平/pcb可焊性測試概要 GEN 3可快速準(zhǔn)確的測試SMD零件、通孔插裝零件、基板上的SMD墊、通孔以及助焊劑料,并能測試各類焊接金屬的可焊性能。除了在裸板上給印刷電路板墊襯和給通孔鍍金外,對于表面安裝和通孔也是高精度的沾錫天平,對于焊劑和其他焊接材料的實(shí)驗(yàn)室測試也是完美的典范。 pcb可焊性測試/沾錫天平GEN 3特點(diǎn) ·浸潤平衡法/
(最后一臺粘度儀)Malcom_PCU-285錫膏粘度計(jì)
(最后一臺粘度儀)Malcom_PCU-285錫膏粘度計(jì) Malcom錫膏粘度計(jì)PCU-285最后一臺粘度儀概述: ·基于JIS Z3284標(biāo)準(zhǔn)可以高精度的測試錫膏的粘度,Ti值,R等數(shù)值。 ·新的恒溫槽設(shè)計(jì)改善了測試完樣品后清洗傳感器的工序,另外恒溫槽功率加大,使得溫控更加穩(wěn)定。 ·可以通過網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)管理測定數(shù)據(jù)。 ·可以自動測定·保存數(shù)據(jù)。 ·以往的打印機(jī)輸出數(shù)據(jù)可以通過選配件來對應(yīng)。 Malc
公司名: 上海衡鵬實(shí)業(yè)有限公司
聯(lián)系人: 陳靜靜
電 話: 021-52231552
手 機(jī): 18221665509
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地 址: 上海閔行金都路1165弄123號南方都市園6號樓3-4層
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網(wǎng) 址: susangao.cn.b2b168.com
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