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便攜式VOCs泄漏檢測儀為何常選PID原理近日,全國各地**針對**VOCs泄漏探測器的采購量有了很大的提高。原因是《2020年揮發(fā)性**物治理方案》的制定提到,執(zhí)法設(shè)備水平必須提高,應(yīng)配備幾種攜帶探測器,包括攜帶探測器VOCs泄漏探測器。目前市場上很受歡迎VOCs泄漏檢測儀主要有兩種原理,一種是PID(光離子)原理,另一個是FID(氫火苗正離子)原理。但在某些檢測環(huán)境和環(huán)境下,PID原理的V
手持式光譜分析儀原理手持式光譜分析儀為各行各業(yè)的工作人員提供了很大的方便,操作者可以從心所欲地進(jìn)行現(xiàn)場分析和原位分析等測試。它也是目前在國內(nèi)比較廣泛生產(chǎn)和運(yùn)用的儀器。手持式分析儀運(yùn)用X射線熒光光譜的工作原理,通過一系列X光管**出X射線,并且激發(fā)出被分析的合金,從而使合金內(nèi)部原子產(chǎn)生能量,并且達(dá)到一定程度產(chǎn)生二次釋放X射線。我們通過探測機(jī)器捕獲到二次射線,于是與能量光譜圖開始進(jìn)行成分分析和測試,并
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種
聯(lián)系人: 李經(jīng)理
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