鍍層測厚儀工作原理

時(shí)間：2020-01-05作者：蘇州百測檢測科技有限公司瀏覽：402

蘇州百測檢測科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測儀器,x射線鍍層測厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 手持式光譜分析儀

  手持式光譜合金分析儀explorer系列產(chǎn)品的性能良好，精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級的分析水平，可直觀顯示合良好號和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量。開機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合良好號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條

• x射線熒光光譜儀測試方法

  能量色散X熒光光譜儀EDX 3600繼承了儀器EDX系列的準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結(jié)果完全符合標(biāo)準(zhǔn)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。 下面以x射線熒光光譜儀測

• XRF檢測儀簡介

  XRF檢測儀通常又被稱著x射線熒光光譜儀，熒光分析儀，ROHS檢測儀，元素分析儀等。按照設(shè)計(jì)和原理可分為手持式XRF，臺式XRF,波長色散XRF和能量色散XRF。根據(jù)不同的檢測應(yīng)用又可以分為ROHS檢測儀XRF，鍍層測厚儀XRF，合金分析儀XRF，環(huán)保測試儀XRF，礦石分析儀XRF，土壤重金屬分析儀XRF，糧食檢測儀XRF，貴金屬測試儀XRF，水泥分析儀XRF等。 公司是國內(nèi)**家從事XRF

• 直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢

  直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、精確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。 具有以下技術(shù)優(yōu)勢： 全譜檢測全面測試各種金屬和元素 基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。 配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序較為方便，方便交貨后在客