XRF環(huán)保ROHS測(cè)試儀的優(yōu)缺點(diǎn)

時(shí)間：2019-11-20作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：674

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

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  詞條說明

• 直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)

  直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、精確、穩(wěn)定、可靠測(cè)試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。 具有以下技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素 基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。 配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序較為方便，方便交貨后在客

• ROHS2.0測(cè)試儀器

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• 涂層測(cè)厚儀故障排除方法

  無(wú)損檢測(cè)之涂鍍層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測(cè)工件的，還有就是來自自然環(huán)境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導(dǎo)致涂鍍測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測(cè)厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍

• EDX1800B原理

  EDX1800B元素測(cè)試儀的原理和功能較加強(qiáng)大，以*特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來滿足RoHS及鹵素檢測(cè)的需要。提供EDX1800B元素測(cè)試儀產(chǎn)品資料、性能、技術(shù)參數(shù)和操作說明。? 人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作較加輕松完成。?儀器技術(shù)指標(biāo) 。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。元素含量分析范圍為2 PPm到** 。測(cè)量時(shí)間：60-200秒。RoHS指令規(guī)