衍射光學(xué)元件為CBC提供多種優(yōu)勢

時間：2023-10-19作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：115

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  詞條說明

• RPC多合一渦旋相位片與渦旋波片陣列的差異對比

  一、RPC多合一渦旋相位板片與渦旋波片陣列的區(qū)別1.?特點(diǎn)渦旋波片陣列由多個渦旋波片組合，是采用機(jī)械外殼固定的一種新型光學(xué)元件，渦旋波片陣列可以拆分成單個渦旋波片使用。LBTEK目前的型號有m=+1~9依次排列組合而成的渦旋波片陣列。渦旋波片陣列是結(jié)構(gòu)為3x3的方形陣列，按照從左到右、從上到下的順序排列。RPC多合一渦旋相位片是在一個渦旋相位板上集成多個小渦旋相位片，并按波長或拓?fù)浜蓴?shù)兩

• Xenics推出長波紅外相機(jī)Ceres T 1280

  近日Xenics推出了新型長波紅外(LWIR)相機(jī)產(chǎn)品，型號Ceres T 1280，該型號相機(jī)繼承了一貫的高性能、高分辨率Ceres T 1280是一款SXGA（1280×1024像素）長波紅外相機(jī)，專用于熱成像，具有非常高的精度和穩(wěn)定性能。Ceres T 1280的出現(xiàn)，代表Xenics正在擴(kuò)展高性能熱像儀系列產(chǎn)品。該產(chǎn)品適用于過程監(jiān)控、工業(yè)機(jī)器視覺、醫(yī)療或科學(xué)等要求高分辨率和高端熱成像能力的

• Phasics波前傳感器測量光學(xué)質(zhì)量控制、光學(xué)系統(tǒng)校準(zhǔn)和表面測量的計量工具

  Phasics 為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境提供用于光學(xué)質(zhì)量控制、光學(xué)系統(tǒng)校準(zhǔn)和表面測量的全套計量工具。Phasics?的計量儀器從獨(dú)立的波前傳感器到自動化測試站。提供從紫外到遠(yuǎn)紅外的解決方案，并執(zhí)行全面的測量，同時保持易于使用和多功能的計量儀器。測量參數(shù)包括：調(diào)制傳遞函數(shù)?(MTF)?波前像差、測量表面形貌測量和表面質(zhì)量。下文介紹了Phasics SID4波前傳感器測量元器件面

• Alluxa開發(fā)出新的這項(xiàng)擴(kuò)展光譜性能工藝

  ALLUXA 推出具有擴(kuò)展光譜性能的突破性PVD濾光片加工工藝，這項(xiàng)加工技術(shù)將用于紫外到紅外的濾光片以高性能光學(xué)鍍膜以及濾光片的廠商ALLUXA，近日推出了擴(kuò)展光譜光學(xué)鍍膜性能的突破性能力，他們所制造開發(fā)的下一代SIRRUS?等離子體物理氣相沉積平臺現(xiàn)在可以提供紫外線到紅外的全光譜覆蓋，這項(xiàng)加工工藝將使ALLUXA濾光片擁有更加陡峭的曲線邊緣，更高的透射率和更甚的阻擋等級，同時保持精確的波長控制和