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振動幅度、振動烈度是振動標準中的通用術(shù)語,是描述一臺機器振動狀態(tài)的特征量(大機組不完全如此)。可以認為,振動烈度就是振動速度的有效值;振動幅度就是振動位移的峰峰值。 由高中物理可知:已知簡諧振動位移 圖片 式中,X 為振動幅度的瞬時值,A 為振動幅度的較大值,ω 為振動幅度的角速度,Ф 為振動幅度的初相位。 振動的速度: 圖片 對位移進行微分。 振動的加速度: 圖片 對速度進行微分。 當不考慮相位
??快速溫變試驗可廣泛應(yīng)用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品以及高低溫快速變化環(huán)境下的各種電子元器件,能夠滿足長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)要求??焖贉刈冊囼瀸Ξa(chǎn)品的影響有哪些?快速溫變試驗對產(chǎn)品有什么影響呢?本文中檢測與您一起探討! 一、溫度的變化對產(chǎn)品的影響主要包括:1、對于由不同材料制成的產(chǎn)品,當溫度變化時,產(chǎn)品受熱不均勻,導致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品破裂、玻
??HAST試驗是高加速溫濕度應(yīng)力測試,也稱高壓蒸煮試驗是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測試方法。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的耐濕性。????????HAST測試標準與高溫/高濕測試(85°C/85% RH)相比,HAST 由于濕
電子元器件在使用過程中,常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障,究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時定位到元器件的故障原因,就能及時排除故障,讓設(shè)備正常運行。 ?溫度導致失效:元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導體器件的影響: 由于P
公司名: 武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司
聯(lián)系人: 邱經(jīng)理13266883556
電 話:
手 機: 13266883556
微 信: 13266883556
地 址: 湖北武漢江夏區(qū)武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)佛祖嶺街竹林小路9號武漢金能風電產(chǎn)業(yè)園3號廠房棟1-2層102室
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網(wǎng) 址: whzhiyitest.b2b168.com
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