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詞條說明
電子元器件在使用過程中,常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障,究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時定位到元器件的故障原因,就能及時排除故障,讓設(shè)備正常運行。 ?溫度導(dǎo)致失效:元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導(dǎo)體器件的影響: 由于P
溫度試驗是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開展的環(huán)境試驗,但要真正做好溫度試驗,需要掌握的知識內(nèi)容很多,本文介紹溫度試驗主要知識點,供學(xué)習(xí)參考。 溫度對試件的影響 溫度相關(guān)試驗是環(huán)境試驗入門,包括高溫試驗、低溫試驗、溫度變化試驗。高低溫試驗主要驗證產(chǎn)品在較值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響,是否可以正常運作。溫度變化試驗主要測試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度較值的耐受力。 高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在
電感可靠性測試分為環(huán)境測試和物理測試兩種。 一般的SMD型電感,貼片功率電感,插件電感等都會做這樣的測試。環(huán)境測試主要測試電感的耐溫性,耐濕性,熱沖擊等;物理測試主要是測試電感的強度,可焊性,再流焊,跌落,碰撞等。 一、電感可靠性測試之環(huán)境測試 MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲存試驗 1.無明顯的外觀缺陷 2.感值變化不**過10% 3.品質(zhì)因數(shù)變化不**過30% 4.直流電阻
??HAST試驗是高加速溫濕度應(yīng)力測試,也稱高壓蒸煮試驗是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測試方法。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的耐濕性。????????HAST測試標(biāo)準(zhǔn)與高溫/高濕測試(85°C/85% RH)相比,HAST 由于濕
公司名: 武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司
聯(lián)系人: 邱經(jīng)理13266883556
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手 機: 13266883556
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地 址: 湖北武漢江夏區(qū)武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)佛祖嶺街竹林小路9號武漢金能風(fēng)電產(chǎn)業(yè)園3號廠房棟1-2層102室
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網(wǎng) 址: whzhiyitest.b2b168.com
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