什么是表面微觀形貌SEM？

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：431

深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 微量污染物成分分析

  微觀成分分析????????◆腐蝕產(chǎn)物分析????????◆鍍（涂）層成分分析????????◆污染物成分分析????&

• SEM及EDS測(cè)試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測(cè)下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項(xiàng)目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)樣品成分的線分布和面分布分析機(jī)械探針式測(cè)量方法:探針式輪廓儀測(cè)量范圍大，測(cè)量精度高，但它是一種點(diǎn)掃描測(cè)量，測(cè)量費(fèi)時(shí)。機(jī)械探針式測(cè)量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測(cè)量方

• X射線光譜方法測(cè)定

  X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。測(cè)試設(shè)

• 表面成分分析的常見方法

  表面成分分析按照結(jié)論來(lái)區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過(guò)成分分析的手段得出被測(cè)物中主要包括的成分，概況的來(lái)說(shuō)就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測(cè)物的定性組分之后，進(jìn)行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無(wú)限接近真實(shí)情況，但卻無(wú)法**保證準(zhǔn)確。定性半定量分