表面成分分析的常見(jiàn)方法

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：620

深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專(zhuān)注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 材料斷口觀察SEM分析檢測(cè)

  用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗(yàn)金屬的宏觀組織和缺陷稱(chēng)為組織檢驗(yàn)。在實(shí)驗(yàn)室中，常用的檢驗(yàn)方法有酸蝕低倍檢驗(yàn)、斷口檢驗(yàn)、塔形車(chē)削發(fā)紋檢驗(yàn)和硫印試驗(yàn)等。酸蝕低倍檢驗(yàn)，這是一種將制備好的試樣，經(jīng)過(guò)酸液腐蝕以后，來(lái)顯示試樣的宏觀組織的檢驗(yàn)。而根據(jù)酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗(yàn)。按GB/T1979評(píng)級(jí)圖對(duì)照低倍組織缺陷圖來(lái)進(jìn)行評(píng)級(jí)。，通過(guò)放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發(fā)現(xiàn)各種皮

• 表面成分分析的常見(jiàn)方法

  表面成分分析按照結(jié)論來(lái)區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過(guò)成分分析的手段得出被測(cè)物中主要包括的成分，概況的來(lái)說(shuō)就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測(cè)物的定性組分之后，進(jìn)行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無(wú)限接近真實(shí)情況，但卻無(wú)法**保證準(zhǔn)確。定性半定量分

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場(chǎng)?(Extractor)?牽引尖端細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過(guò)一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過(guò)二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來(lái)進(jìn)行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、

• 涂鍍層厚度測(cè)試的應(yīng)用領(lǐng)域

  涂鍍層厚度測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車(chē)、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個(gè)制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測(cè)量相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測(cè)定金屬及氧化層試驗(yàn)方法ASTM?