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小型濺射儀儀問儀答近小伙伴對(duì)于濺射儀使用和技術(shù)參數(shù)問的問題比較多,今天總結(jié)一下濺射儀的一些常見的技術(shù)問題:1、膜厚檢測(cè)儀原理:膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理,利用頻率測(cè)量技術(shù)加上的數(shù)學(xué)算法,進(jìn)行膜厚的在線鍍膜速率和實(shí)時(shí)厚度計(jì)算。主要應(yīng)用于MBE、OLED或金屬熱蒸發(fā)、磁控濺射設(shè)備的薄膜制備過程中,對(duì)膜層厚度及鍍膜速率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。2、濺射儀是否可以鍍鎳:可以鍍鎳 ?但是 鎳是導(dǎo)磁金屬
多功能 可擴(kuò)展 顯微鏡熱臺(tái) 拉曼光學(xué)測(cè)試臺(tái)
擁有一臺(tái) 你在材料測(cè)試方面微型真空探針臺(tái)? ? ? ?多功能 可擴(kuò)展 顯微鏡熱臺(tái) 微型探針臺(tái)?? ? ? ?氣敏濕敏探針臺(tái)? 拉曼光學(xué)測(cè)試臺(tái)? 熱電探針臺(tái)??? ? ? ? 光電探針臺(tái) 非磁性霍爾效應(yīng)探針臺(tái)??
1000度高溫真空探針臺(tái),主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、納米技術(shù)、光電子、薄膜技術(shù)等領(lǐng)域,具有以下用途:1. 半導(dǎo)體器件測(cè)試與表征:用于不同溫度下的半導(dǎo)體料件、電子器件和光電子器件的性能測(cè)試和分析。2. 材料性能表征:研究和測(cè)試材料在不同溫度下的電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)等性能,以及材料的穩(wěn)定性和可靠性。3. 納米結(jié)構(gòu)與納米器件研究:在納米尺度上測(cè)量納米結(jié)構(gòu)與納米器件的電學(xué)性能,及其在高溫真空環(huán)境中的穩(wěn)定性和
探針臺(tái)精準(zhǔn)控制關(guān)鍵技術(shù)研究
集成電路自動(dòng)化裝備-探針臺(tái)是晶圓測(cè)試領(lǐng)域研究的熱點(diǎn)。由于晶圓片上晶粒很小,達(dá)到微米級(jí),所以要求探針臺(tái)要保持很高的定位精度和運(yùn)動(dòng)精度才能保證探針與晶粒的準(zhǔn)確對(duì)針和測(cè)試。因此,本文主要研究的問題是如何保證探針臺(tái)高精密控制,從而達(dá)到微米級(jí)定位要求。? ? ? ?本文來自于國家02專項(xiàng)-面向12”晶圓片的全自動(dòng)探針臺(tái)關(guān)鍵技術(shù)研究。首先,本文介紹了探針臺(tái)兩大部分-LO
公司名: 鄭州科探儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人: 裴先生
電 話:
手 機(jī): 15136134901
微 信: 15136134901
地 址: 河南鄭州中原區(qū)鄭州**產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)西三環(huán)路289號(hào)6幢11單元3層73號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: zzketan.b2b168.com
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