來自Femtum搭建的微機械加工、中紅外激光材料的應(yīng)用平臺

時間：2023-04-12

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機的注意事項
高光譜成像是一種表面測量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機測量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量，能提高它們的識別度。例如，在測量樣品核心部分時，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中，灰塵或包裝標簽會阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)
Alphalas的UPD超快光電探測器的功率密度計算
在使用Alphalas?UPD超快光電探測器時，對于所有遇到光電探測器沒有信號或信號非常小這種問題的客戶，經(jīng)過事實證明，沒有任何例外的原因都是落在光電探測器芯片敏感區(qū)的輸入光功率太低。用功率僅為1 mW的633nm激光對UPD-50-SP進行測試。首先，我們參考UPD超快光電探測器UPD-50-SP的靈敏度曲線。在633nm，靈敏度為0.5 A/W（或0.5 mA/mW）。因為具有1mW
衍射光學元件清潔、DOE鏡片清洗操作說明
以色列Holoor生產(chǎn)的所有衍射光學元件（DOE）元件都在潔凈室環(huán)境下進行DOE鏡片清潔和包裝。但是，在客戶現(xiàn)場使用或安裝過程中，產(chǎn)品可能會弄臟。請參見以下衍射光學元件清潔手冊清潔說明，并確保在嘗試DOE鏡片清潔之前遵循這些說明。注意：?Holoor的產(chǎn)品是以干凈和隨時可用的狀態(tài)交付。如果由于某種原因弄臟產(chǎn)品，請使用以下說明來進行衍射光學元件清潔。此外，請注意，將弄臟的產(chǎn)品放入您的系統(tǒng)中
四波橫向剪切干涉技術(shù)是波前分析儀的核心
這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成，從單一的波前傳感器到模塊，再到完整的系統(tǒng)，無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù)，這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當待測波前經(jīng)過波前