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詞條說明
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預計未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&nb
產(chǎn)品功能 UFS4.0協(xié)議分析儀(PGY-UFS4.0-PA)是一種具有多種功能,可捕獲和調(diào)試主機與被測設(shè)計(DUT)之間的通信的協(xié)議分析儀。UFS4.0協(xié)議分析儀是同類產(chǎn)品中基于值的分析儀,可捕獲和調(diào)試MPHY、UniPro 和UFS協(xié)議層的數(shù)據(jù)。它允許對UFS層、UniPro層和 MPHY層進行即時解碼,并能靈活地在這些協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)解碼數(shù)據(jù)。 UFS4.0協(xié)議分析儀是業(yè)內(nèi)一個可運行并經(jīng)過測試
使用 PGY-PCIeLP-SBA 對 PCIe 接口進行邊帶信號分析
芯片供應商需要驗證 DUT 不同狀態(tài)下邊帶信號的電氣時序測量,并查看長期一致性。為了滿足這一要求,Prodigy Technovations 開發(fā)了?PCIe邊帶信號分析儀。它監(jiān)控這些信號并提供多周期運行中測量的統(tǒng)計信息,以確保穩(wěn)定可靠的運行。PGY-PCIeLP-SBA 包括 discovery 系列邏輯分析儀(掌上大小),帶有用于 REFCLK 的 PCIe 邊帶信號分析的定制邏輯、
Prodigy 宣布推出世界上臺經(jīng)過測試量產(chǎn)的UFS4.0 協(xié)議分析儀
總部位于班加羅爾的?Prodigy Technovations Pvt. Ltd 推出了其?PGY-UFS4.0-PA?M-PHYSM、UniPro? 和 UFS4.0 協(xié)議分析儀,用于開發(fā)下一代閃存 UFS 4.0,每通道接口 23.2 Gbps,用于 5G、移動、汽車、物聯(lián)網(wǎng)、AR/VR 應用。PGY-UFS4.0-PA?使設(shè)計和測試工程師能夠根據(jù)其規(guī)格
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機: 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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網(wǎng) 址: qiuxiangchen.b2b168.com
Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓練器,歐奧電子供應可用于芯片測試驗證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓練器 歐奧電子供應用于芯片研發(fā)測試驗證
Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動進樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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聯(lián)系人: 鄭陽燕
手 機: 18588455974
電 話: 19926571623
地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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濱江LS-35LD 立式壓力蒸汽滅菌器數(shù)碼顯示自動型
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