X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：669

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• rohs檢測(cè)儀有哪些技術(shù)指標(biāo)

  RoHS檢測(cè)儀就是歐盟RoHS測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。簡(jiǎn)單的說(shuō)就是測(cè)試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1PPm到9999%RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測(cè)限最高達(dá)1PPM;測(cè)量時(shí)間: 60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15°C至30°C電源:交流220V+5V (

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過(guò)程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長(zhǎng)分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca