rohs檢測(cè)儀有哪些技術(shù)指標(biāo)

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：653

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• 詞條

  詞條說明

• X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

  X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直

• rohs檢測(cè)儀分析原理是什么

  ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• 天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀

  天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀詳細(xì)資料介紹，天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀型號(hào)和報(bào)價(jià)請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售的天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀edx1800b測(cè)試設(shè)備，針對(duì)EDX 1800B在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800E。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。應(yīng)用領(lǐng)域包括：RoH