詞條
詞條說(shuō)明
電池測(cè)試箱可用于電池質(zhì)量保證或生產(chǎn)方面進(jìn)行老化、性能和壓力測(cè)試??蓽y(cè)試鎳氫電池、鉛酸電池和鋰電池,測(cè)試產(chǎn)品的范圍從zui小的電池單元到zui大的電池總成。電池測(cè)試試驗(yàn)箱可以在很多領(lǐng)域應(yīng)用,包括儀表、塑膠制品、計(jì)算機(jī)、通訊、guo防、新能源汽車等。電池測(cè)試試驗(yàn)箱有各種規(guī)格,從小型臺(tái)式試驗(yàn)箱到大型步入式試驗(yàn)箱,每一臺(tái)環(huán)境試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)都考慮了其安全性問(wèn)題,設(shè)置了一系列的安全選件。設(shè)置了安全門互鎖,使用防
三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。?下面讓我們來(lái)了解一下三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的操作流程
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生
升降室容積從230升到**過(guò)500升溫度范圍自-90℃至 +180℃(選項(xiàng)+200℃)通過(guò)被試件在冷箱室和熱箱室之間的交替移動(dòng),溫度沖擊試驗(yàn)箱可以給被試件施加一個(gè)非常非??斓臏囟茸兓俾?,這樣可以暴露被試件可能的缺陷,也可以用來(lái)定義被試件的使用壽命。CTk型號(hào)的溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于質(zhì)量較大的負(fù)載, 因?yàn)樵撔吞?hào)試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)緊湊,占地面積小,所以特別推薦用于生產(chǎn)線.CTk系列的溫度沖擊試驗(yàn)箱不僅可以進(jìn)行
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