三槽式冷熱沖擊試驗箱的操作流程講解

時間：2023-03-23

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
太陽能電池溫度循環(huán)試驗
太陽能電池在環(huán)境測試中必須要進行規(guī)范所提到的濕冷凍，溫度循環(huán)、濕熱、高低溫濕熱老化等試驗。確認太陽能電池在試驗過程中是否發(fā)生故障或是失效。透過開路測試可以對太陽能電池失效進行判定。一、測試種類：一般檢查、點擊危險、火災危險、機械應力與環(huán)境應力二、處理試驗：熱循環(huán)、濕冷凍試驗、濕熱試驗、紫外線試驗三、試驗設備：恒溫恒濕試驗箱、恒溫恒濕試驗機、冷熱沖擊試驗箱、高低溫試驗箱四、試驗條件：1、試驗條件：8
水冷和風冷制冷方式的差別
水冷散熱：指的是選用水或是別的制冷液體根據(jù)流動性的方法來開展減溫，采用較多的一般為大型高低溫試驗箱、步入式高低溫實驗室等，一般也多用于半封閉壓縮機組。水冷散熱的制冷率一般比風冷式要高很多，它的優(yōu)點是降溫效果好，對環(huán)境要求相對較低，特別是夏季。缺點是需要配套的冷卻水裝置，也就是需要水塔，管路等施工。風冷散熱：指的是運用空氣流動性造成對流傳熱，進而減少箱里溫度，以做到制冷的目的。通常是需要加大冷卻的物
芯片能忍受高溫嗎？
物理原理出發(fā)，為什么芯片等半導體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)？溫度會影響很多很多參數(shù)，它們會對電路的各個方面產(chǎn)生影響。zui大的問題就是電路延遲。溫度會影響半導體器件的遷移率和閾值電壓，但是這兩者和溫度的關系很復雜，而且不同材料的不同摻雜也會影響溫度效應。通常情況下，在接近室溫的情況下，遷移率和閾值都會隨著溫度的上升而降低，總體上來說，溫度的上升會造成電路延時的增加。一旦延時過高，部分電
電子產(chǎn)品可靠性測試標準有哪些？
電子類的產(chǎn)品在持續(xù)地增多，在產(chǎn)品的制造過程中，都會因為各種原因而對產(chǎn)品的質量產(chǎn)生影響，可靠性測試標準的目的就是要了解電子產(chǎn)品在生產(chǎn)和應用的過程中，遇到不同的氣候環(huán)境和機械環(huán)境，會不會對產(chǎn)品的正常使用產(chǎn)生影響。利用可靠性測試方法，可以測定出在不同環(huán)境中使用或儲存的電子產(chǎn)品的可靠特性參數(shù)，為其應用、生產(chǎn)及設計提供依據(jù)；在產(chǎn)品設計，原料和過程中，還可能會發(fā)現(xiàn)一些問題。電子產(chǎn)品可靠性測試標準如下：高溫測試