芯片晶圓晶圓測試轉(zhuǎn)讓

時間：2023-03-03作者：龐博電子有限公司（中國香港）瀏覽：83

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  白片晶圓不良芯片IC回收不良芯片 不良芯片 不良芯片 萬用表測三插上的地線孔。電阻測量：對地電阻10Ω以內(nèi)有接，無窮大∞沒接。電壓測量：交流500v檔，地線孔對火線孔有175-250v電壓，有接。沒電壓，沒接。如果沒有萬用表就用25w家用白熾燈泡測試，接好燈座，留少許線纜，兩線剝出2cm金屬線，*插火線孔，*插地線孔，燈泡發(fā)光，有地線。不發(fā)光，沒地線。地線如果接到大地上，它和大地的電阻理論上是

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