KIC測(cè)溫儀可能會(huì)出現(xiàn)的故障及解決方法

時(shí)間：2025-10-02作者：蘇州欣美和儀器有限公司瀏覽：1860

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  詞條說明

• KIC爐溫測(cè)試儀的許可與保修內(nèi)容

  KIC爐溫測(cè)試儀的許可與保修內(nèi)容?軟件許可協(xié)議和產(chǎn)品保修KIC 軟件遵從以下許可條款和條件。?1. KIC軟件許可證1.1 這是KIC授予的軟件允可證，郵寄地址為美國(guó)加利福尼亞州，圣地亞哥，伯納多大街16120號(hào)。?1.2 KIC軟件授權(quán)給終端用戶，非賣品。?1.3 KIC軟件受版權(quán)保護(hù)。?1.4 KIC軟件與一個(gè)或多個(gè)相關(guān)硬件配合工作構(gòu)成一個(gè)熱工

• 愛色麗色差儀常見故障及維修

  色差儀（如愛色麗Ci6x系列）在色彩管理中是核心設(shè)備，但校準(zhǔn)失敗會(huì)導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)失真，直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。本文基于愛色麗Ci6x系列常見故障場(chǎng)景，結(jié)合維修實(shí)踐，整理高頻問題及解決方案，幫助用戶快速定位并修復(fù)故障。一、白校正失敗的根源與修復(fù)流程故障現(xiàn)象：校準(zhǔn)提示“光源失敗”“不正確的白板數(shù)值”或“校正錯(cuò)誤”。核心原因：1. 校準(zhǔn)基準(zhǔn)污染：白瓷片或黑筒表面積累灰塵、污漬，干擾光學(xué)讀數(shù)。2. 硬件老化：光源

• 掃描式分光測(cè)色儀的應(yīng)用

  在顏色測(cè)量?jī)x器的發(fā)展進(jìn)程中，機(jī)械掃描式光譜測(cè)色儀在分光光度測(cè)色儀器中占有十分重要的地位，目前仍是光譜檢測(cè)和顏色科學(xué)研究中重要的高精度實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備之一。這類儀器一般由照明光源、單色儀、光電檢測(cè)系統(tǒng)和微型計(jì)算機(jī)電子控制系統(tǒng)等主要部件構(gòu)成如圖下圖所示。樣品的光譜反射比是相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的光譜反射比進(jìn)行測(cè)量的。樣品和標(biāo)準(zhǔn)均受到光源經(jīng)單色儀分光后的漫射照明，而光探測(cè)器在接近垂直于樣品的角度接收反射信號(hào)，后由微機(jī)

• HG60S光澤度儀測(cè)量皮革樣品

  光澤度儀測(cè)量皮革光澤度的方法包括以下步驟：?準(zhǔn)備工作：選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量模式和測(cè)量口徑。對(duì)于皮革這類材料，通常使用中口徑或大口徑。校準(zhǔn)光澤度儀。使用標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行校準(zhǔn)，確保儀器準(zhǔn)確。?樣品準(zhǔn)備：選擇代表性樣品。確保樣品表面干凈、平滑，沒有瑕疵和污染。如果需要，可以使用適當(dāng)?shù)臐?rùn)滑劑或處理劑來處理樣品表面，以使其更接近實(shí)際使用條件。?測(cè)量過程：將光澤度儀放置在樣品表面上，確保測(cè)量