差熱分析儀

時間：2022-03-04

作者：昂星新型碳材料常州有限公司

詞條
詞條說明
掃描電子顯微鏡SEM
一、產(chǎn)品概述名稱：掃描電子顯微鏡SEM原理：用入射電子束轟擊樣品表面，電子與元素原子核及外層電子發(fā)生碰撞，在此過程中有99%以上的入射電子能量轉變成樣品熱能，而其余約1%的入射電子能量從樣品中激發(fā)出各種信號。掃描電鏡設備就是通過這些信號得到訊息，從而對樣品進行分析的。型號：Zeiss Gemini 300，S4800二、產(chǎn)品應用：應用領域：廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬
什么是晶須
什么是晶須晶須是指自然形成或者在人工控制條件下（主要形式）以單晶形式生長成的一種纖維，其直徑非常?。ㄎ⒚讛?shù)量級），不含有通常材料中存在的缺陷（晶界、位錯、空穴等），其原子排列高度有序，因而其強度接近于完整晶體的理論值。其機械強度等于鄰接原子間力。晶須的高度取向結構不僅使其具有高強度、高模量和高伸長率，而且還具有電、光、磁、介電、導電、**導電性質。晶須的強度遠**其他短切纖維，主要用作復合材料的增強
差熱分析儀
一、產(chǎn)品概述名稱：差熱分析儀產(chǎn)品原理：差示掃描量熱法（DSC）是在程序控制溫度下，測量輸給物質與參比物的功率差與溫度關系的一種技術。型號：鉑金埃爾默DSC8000?二、產(chǎn)品應用應用領域：廣泛用于適用于藥品、食品、高分子、化工產(chǎn)品等產(chǎn)品熔點測定、結晶度測定、熱歷史研究、油和蠟的熱分析、原材料分析、固化轉變、玻璃化轉變溫度的測量、氧化誘導時間測量、等溫結晶及等溫動力學研究、比熱測量、純度測量
X射線光電子能譜XPS
一、產(chǎn)品概述名稱：X射線光電子能譜XPS產(chǎn)品原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激**出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子?？梢詼y量光電子的能量，以光電子的動能/束縛（binding energy，Eb=hv光能量-Ek動能-w功函數(shù)）為橫坐標，相對強度（脈沖/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。型號：Thermo Kalpha；Thermo ESCALAB