詞條
詞條說明
XAU系列熒光光譜儀,采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用**EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。今天就跟著熒光光譜分析儀生產(chǎn)廠家一六儀器來詳細(xì)了解一下XAU系列產(chǎn)品吧。XAU系列產(chǎn)品概述:較廣的檢測范圍可測試較低檢出限、較高精度要求的產(chǎn)品;可視化雙向操作: 實(shí)時(shí)監(jiān)控儀器各項(xiàng)數(shù)據(jù),軟硬件雙向可操控設(shè)計(jì),方便快捷。
X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及厚度。接下來和膜厚測量儀生產(chǎn)廠家了解膜厚測量儀用途及優(yōu)點(diǎn)。膜厚測量儀用途:* 探頭可互換,與所有主機(jī)兼容;* 多種校準(zhǔn)選項(xiàng),包括一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn),已知厚度;* 均值零點(diǎn)校準(zhǔn);* 多種語言可選;* 背光顯示,方便在昏暗環(huán)境下的操作;* 倒置顯示,翻轉(zhuǎn)測量時(shí)不妨礙正常讀數(shù);* 可擴(kuò)展探頭電纜長度(較長可達(dá)250英尺/75
X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶?dǎo)體及非導(dǎo)體材料進(jìn)行分析,近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時(shí)采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。1、莫塞萊定律臺(tái)式光譜儀發(fā)生故障時(shí),尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障,對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。2、布拉格定律該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律,同時(shí),布拉
X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測試,厚度的測量范圍視材料和元素而定。接下來和一六儀器一起了解X熒光光譜儀對于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測試。燒滲法也叫被銀法。這種方法是在陶瓷的表面燒滲一層金屬銀,作為電容器、濾波器的電極或集成電路基片的導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)。銀的導(dǎo)電能力強(qiáng),抗氧化性能好,在銀面上可直接焊接金屬。燒滲的銀層結(jié)合牢固,熱膨脹系數(shù)與瓷坯接近,熱穩(wěn)定性好。此外燒滲的溫度較低,燒滲工
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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