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詞條說明
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質(zhì)譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質(zhì)譜分析”。那他們和AAS有什么區(qū)別?如何選擇統(tǒng)計分析方法?針對有著ICP-OES有技術(shù)背景的人,ICP-MS它是一種以質(zhì)譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質(zhì)譜分析學(xué)者認(rèn)為,質(zhì)譜分析學(xué)者認(rèn)為ICP-MS是一個以ICP質(zhì)譜儀器為源
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
光譜儀又稱分光儀,廣泛為人知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強(qiáng)度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統(tǒng),一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。分為單色儀和多色儀兩種。利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。陽光中的七色光是肉眼能分的部分(可見光),但若通過光譜儀將陽光分解
ROHS無鹵檢測儀器是目前**提供體積小、識別速度快、精度高,對電子產(chǎn)品、玩具、塑膠、油漆、包裝材料等應(yīng)對歐盟WEEE有害元素鉛、汞、鉻、鎘、溴的檢測。該分析檢測儀不僅縮短了測試耗時,而且削減了分析費用。它可以現(xiàn)場完成有害元素的檢測和分析。本產(chǎn)品專門設(shè)計用于提高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和提升業(yè)務(wù)優(yōu)勢的設(shè)備應(yīng)具備操作簡單的特點。對任何人而言,深入探究復(fù)雜的用戶培訓(xùn)資源并不實用。采用擴(kuò)展版平臺,旨在簡化日常分析流程,
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