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詞條說明
在半導(dǎo)體行業(yè)中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產(chǎn)量并耗費生產(chǎn)的時間和成本。因此,檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要,這是在半導(dǎo)體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時,晶圓旋轉(zhuǎn),產(chǎn)生晶圓的大面積采樣,從而
深圳維爾克斯專業(yè)代理Holoor產(chǎn)品,其于2020年推出了適用于中低功率并能精準(zhǔn)整形光束的POG系列產(chǎn)品,POG就是塑料材質(zhì)的衍射光學(xué)元件。其具有超高的性價比,只需用優(yōu)惠的價錢就可以達(dá)到超值的效果,普遍應(yīng)用在3D感應(yīng)、中功率美容用儀器、測量和表面檢測等方面。塑料衍射元件規(guī)格表: 分束器元件(點或線生成器) 擴(kuò)散器/均質(zhì)器元件 微透鏡陣列輸出模式和排列 隨機(jī)點,點陣列(1xM),點矩陣(MxN),多
二十年來,高光譜成像一直被用于從空中對大面積地質(zhì)表面區(qū)域進(jìn)行石油與礦產(chǎn)勘測?,F(xiàn)在,它越來越多地作為一種快速可靠的礦物分析方法應(yīng)用于巖心和其他地質(zhì)樣品中。用于石油和礦產(chǎn)勘探的高光譜成像揭示了人眼在傳統(tǒng)測井中看不到的蝕變模式。幾乎所有的蝕變礦物都能在紅外區(qū)被客觀一致地識別和填圖。近年來在基于高光譜成像技術(shù)數(shù)據(jù)的礦物精細(xì)識別、高光譜影像地質(zhì)環(huán)境信息反演、行星地質(zhì)探測等方面取得了突出的進(jìn)展。高光譜遙感在地
Xenics推出長波紅外相機(jī)Ceres T 1280
近日Xenics推出了新型長波紅外(LWIR)相機(jī)產(chǎn)品,型號Ceres T 1280,該型號相機(jī)繼承了一貫的高性能、高分辨率Ceres T 1280是一款SXGA(1280×1024像素)長波紅外相機(jī),專用于熱成像,具有非常高的精度和穩(wěn)定性能。Ceres T 1280的出現(xiàn),代表Xenics正在擴(kuò)展高性能熱像儀系列產(chǎn)品。該產(chǎn)品適用于過程監(jiān)控、工業(yè)機(jī)器視覺、醫(yī)療或科學(xué)等要求高分辨率和高端熱成像能力的
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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電 話: 0755-84870203
手 機(jī): 18926463275
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