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半導體芯片高低溫濕熱試驗箱(也稱為溫濕度循環(huán)試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等)是一種專門用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗標準:GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 *42部分:溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù):溫度范圍: -20℃~100℃(150℃)、-40℃~100℃(
三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計制造,適用于航空、航太、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品試驗行為做出評價。三箱式冷熱沖擊試驗箱是由三個箱體組成的,分別是高溫儲存室、低溫儲存室、和樣品實驗室。在箱體之間分別有兩個風道有氣缸控制,風道和氣缸就是實現(xiàn)沖擊試驗溫
復(fù)合鹽霧腐蝕試驗箱 ? 復(fù)合鹽霧腐蝕試驗以自然環(huán)境中較常發(fā)生條件加以模擬,以數(shù)倍于自然環(huán)境苛刻程度加以組合,是一種加速腐蝕試驗。測試樣件針對在激烈環(huán)境變化下使用的產(chǎn)品。它是將鹽霧(或CASS)、熱風干燥、濕潤等試驗條件按任意順序循環(huán)組合,能夠有效促進涂料、金屬、鋼材等材料的腐蝕。每個試驗條件可任意順序或單獨執(zhí)行測試。適用各種**試驗標準,此外還適用各行業(yè)如汽車行業(yè)各廠家的試驗方法。 ■
溫度變化類試驗項目名稱:溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊等。且不同體系的標準中應(yīng)用的試驗方法是不同的,如何區(qū)分這些測試項目以及如何選擇它們,需要分析各種類型測試的來源及其差異。????在特定時間內(nèi)進行快速溫度變化,轉(zhuǎn)換時間一般設(shè)定為手動2~3 分鐘,?屬于冷熱沖擊試驗。 高低溫測試主要有兩種方法:氣體法和液體法。氣法分為兩
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