電子產(chǎn)品高低溫測(cè)試檢測(cè)項(xiàng)目biao準(zhǔn)及方法

時(shí)間：2023-07-07作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：121

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)的使用注意常識(shí)

  1、使用該儀器須有專人負(fù)責(zé)，設(shè)備使用完畢應(yīng)切斷外來(lái)電源，免除意外事故發(fā)生。 2、工作室內(nèi)放置試品時(shí)，不能太密，以免影響工作室內(nèi)氣流的正常流動(dòng)，每個(gè)物品之間須有10～20mm間隙，而且對(duì)稱放置，每層擱板上的物品放置要交錯(cuò)，*底層擱板的距離與工作室底部必須有大于100mm的距離。3、在設(shè)備周圍應(yīng)留一定的空間，便于設(shè)備散熱及操作和維護(hù)。 4、控溫系統(tǒng)其他部件故障(用萬(wàn)用電表測(cè)出故障所在，據(jù)情修理)。 5

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

• 五金可靠性測(cè)試有哪些

  五金件（一）.耐腐蝕測(cè)試：Kb鹽霧試驗(yàn)交變鹽霧(氯化鈉溶液)試驗(yàn)接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)高濃度二氧化硫試驗(yàn)大氣腐蝕加速試驗(yàn)，需要用到的設(shè)備有：鹽霧試驗(yàn)箱二氧化硫鹽霧試驗(yàn)箱(或稱二氧化硫腐蝕試驗(yàn)箱)鹽霧交變?cè)囼?yàn)箱。（二）.氣候環(huán)境測(cè)試：長(zhǎng)霉低氣壓試驗(yàn)低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)砂塵試驗(yàn)防水等級(jí)試驗(yàn)Cx未飽和高壓蒸氣恒定濕熱

• 電子手環(huán)ke靠性測(cè)試

  ke靠性試驗(yàn)也稱產(chǎn)品的ke靠性評(píng)估，產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。ke靠性試驗(yàn)包括：老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等