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使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項(xiàng)
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時,需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準(zhǔn)確性和調(diào)試邏輯的嚴(yán)謹(jǐn)性,避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致誤判或遺漏問題。以下是關(guān)鍵注意事項(xiàng):一、硬件連接與探針設(shè)置:避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠,排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異常”,若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良(如探針未壓緊、探針頭氧化),會導(dǎo)致信號捕獲失真(如波形毛刺、信號丟失),易被誤判為焊接問題。
使用 PGY-PCIeLP-SBA 對 PCIe 接口進(jìn)行邊帶信號分析
芯片供應(yīng)商需要驗(yàn)證 DUT 不同狀態(tài)下邊帶信號的電氣時序測量,并查看長期一致性。為了滿足這一要求,Prodigy Technovations 開發(fā)了?PCIe邊帶信號分析儀。它監(jiān)控這些信號并提供多周期運(yùn)行中測量的統(tǒng)計信息,以確保穩(wěn)定可靠的運(yùn)行。PGY-PCIeLP-SBA 包括 discovery 系列邏輯分析儀(掌上大?。?,帶有用于 REFCLK 的 PCIe 邊帶信號分析的定制邏輯、
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&
如何通過Prodigy I3C協(xié)議調(diào)試簡化DDR5內(nèi)存設(shè)計
隨著 DDR5 內(nèi)存設(shè)計變得越來越復(fù)雜,在系統(tǒng)級別調(diào)試 I3C 協(xié)議問題對于確保較佳性能變得至關(guān)重要。Prodigy Technovations 為實(shí)時 I3C 協(xié)議分析和調(diào)試提供了強(qiáng)大的解決方案。為什么選擇 Prodigy 進(jìn)行 I3C 協(xié)議調(diào)試?l? 完整的I3C協(xié)議分析:輕松捕獲和分析復(fù)雜的I3C事務(wù),確保您在設(shè)計過程中保持**地位。l? 無縫系統(tǒng)級調(diào)試:在系統(tǒng)級解決協(xié)議
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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聯(lián)系人: 鄭陽燕
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電 話: 19926571623
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濱江LS-35LD 立式壓力蒸汽滅菌器數(shù)碼顯示自動型
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