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詞條說明
不同類型的紙板(如瓦楞紙板、白板紙、箱紙板等)耐破強(qiáng)度受哪些因素影響?如何提高這些紙板的耐破強(qiáng)度?
一、影響不同類型紙板耐破強(qiáng)度的因素瓦楞紙板原紙質(zhì)量:瓦楞紙板由面紙、里紙和瓦楞芯紙組成。原紙的纖維長度、強(qiáng)度和韌性對耐破強(qiáng)度影響顯著。長纖維的紙張強(qiáng)度高,能承受更大的壓力。例如,使用針葉木漿纖維制成的原紙通常比闊葉木漿纖維的強(qiáng)度高,因?yàn)獒樔~木漿纖維更長。瓦楞形狀和層數(shù):瓦楞的形狀(如 A 型、B 型、C 型等)和層數(shù)會(huì)影響耐破強(qiáng)度。A 型瓦楞的高度較高,緩沖性能好,但耐破強(qiáng)度相對較低;C 型瓦楞的
優(yōu)爾鴻信檢測|SI信號完整性測試常見問題及解決辦法?
以下是 SI 信號完整性測試中的常見問題及解決辦法:信號反射問題:當(dāng)傳輸線的特征阻抗與信號的源端阻抗或負(fù)載阻抗不匹配時(shí),信號會(huì)發(fā)生反射,導(dǎo)致信號波形出現(xiàn)過沖、下沖和振鈴現(xiàn)象,影響系統(tǒng)時(shí)序.解決辦法:進(jìn)行阻抗匹配,設(shè)計(jì)傳輸線時(shí)確保特性阻抗與源 / 負(fù)載阻抗一致;在接收端或源端加終端電阻吸收反射信號;優(yōu)化 PCB 布局,減少傳輸線的不連續(xù)性.串?dāng)_問題:信號在傳輸線上傳輸時(shí),因電磁能量通過互容和互感耦合
優(yōu)爾鴻信精密量測|形位公差測量有哪些標(biāo)準(zhǔn)
形位公差測量標(biāo)準(zhǔn)主要如下:《GB/T 1182-2018產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 幾何公差 形狀、方向、位置和跳動(dòng)公差標(biāo)注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號和圖樣表示法》?實(shí)際的工業(yè)制品測量形位公差,會(huì)有很多技術(shù)細(xì)節(jié),需要來自測量實(shí)驗(yàn)室的建議,提供形位公差測量方案,詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯:Amanda王莉
在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)中,產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)(如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地)對產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因?
在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)中,不同著地姿態(tài)對產(chǎn)品損壞程度有著顯著不同的影響。當(dāng)產(chǎn)品正面著地時(shí),對于帶有顯示屏的電子設(shè)備,如手機(jī)、平板電腦等,屏幕往往是最容易受損的部分。這是因?yàn)槠聊皇且粋€(gè)相對脆弱的平面結(jié)構(gòu),正面著地會(huì)使沖擊力直接作用于屏幕。屏幕玻璃可能會(huì)出現(xiàn)破裂,內(nèi)部的液晶層也可能會(huì)受到擠壓損壞,導(dǎo)致顯示異常。同時(shí),正面著地還可能使位于產(chǎn)品正面的按鍵、攝像頭等部件因受到?jīng)_擊而損壞,例如按鍵可能會(huì)失去彈
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
電 話:
手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
郵 編: 0
網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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百色同父異母半同胞隔代親子鑒定 尋親認(rèn)親隔代親緣鑒定
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