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詞條說明
在半導(dǎo)體行業(yè)中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產(chǎn)量并耗費(fèi)生產(chǎn)的時間和成本。因此,檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要,這是在半導(dǎo)體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時,晶圓旋轉(zhuǎn),產(chǎn)生晶圓的大面積采樣,從而
Holoeye新推出13個衍射光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)品元件
HOLOEYE推出13款新的標(biāo)準(zhǔn)品玻璃衍射光學(xué)元件。這些元件由熔融石英玻璃通過蝕刻制成,并在玻璃基板的兩面都具有抗反射(AR)涂層。DOE針對800nm左右的波長進(jìn)行了優(yōu)化。都是庫存現(xiàn)貨HOLOEYE目前添加了13個具有不同圖案的新標(biāo)準(zhǔn)玻璃DOE:DE805:1:2分束器,全圖案角度:0.25°@800nmDE806:1:2分束器,全圖案角度:0.5°@800nmDE807:1:2分束器,全模式角
Xenics推出長波紅外相機(jī)Ceres T 1280
近日Xenics推出了新型長波紅外(LWIR)相機(jī)產(chǎn)品,型號Ceres T 1280,該型號相機(jī)繼承了一貫的高性能、高分辨率Ceres T 1280是一款SXGA(1280×1024像素)長波紅外相機(jī),專用于熱成像,具有非常高的精度和穩(wěn)定性能。Ceres T 1280的出現(xiàn),代表Xenics正在擴(kuò)展高性能熱像儀系列產(chǎn)品。該產(chǎn)品適用于過程監(jiān)控、工業(yè)機(jī)器視覺、醫(yī)療或科學(xué)等要求高分辨率和高端熱成像能力的
篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成,從單一的波前傳感器到模塊,再到完整的系統(tǒng),無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù),這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當(dāng)待測波前經(jīng)過波前分
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯(lián)系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機(jī): 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號館
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網(wǎng) 址: welloptics.cn.b2b168.com
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