可程式高低溫試驗箱箱使用方法以及注意事項

時間：2022-08-15作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：244

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  詞條說明

• 芯片高低溫測試所需設(shè)備參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)

  芯片高低溫測試設(shè)備性能指標(biāo)保護措施： 1、可靠的接地保護裝置 2、電源欠壓，缺相保護 3、獨立工作室**溫保護 4、保護制冷機**壓、過載、油壓欠壓； 5、加熱器短路，過載保護 6、漏電保護，報警聲訊提及 芯片高低溫測試設(shè)備規(guī)格型號及技術(shù)參數(shù)：1.?溫度范圍：-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-85~+150℃。 2.控制穩(wěn)定性：±0.5℃ 3.

• labcompanion無風(fēng)高低溫防爆環(huán)境試驗箱助力鋰電研發(fā)可靠

  labcompanion針對鋰電池行業(yè)的研究，與行業(yè)客戶聯(lián)合，對鋰電池做高低溫環(huán)境溫度模擬配合充放電測試，使用同一生產(chǎn)批次鋰離子動力電芯，測試采用了7種方式：改變風(fēng)向、調(diào)整風(fēng)速、制作容器、電池表面貼板等等，在-20℃條件下進(jìn)行放電測試，7項測試方式分析如下：1、（調(diào)整風(fēng)速）采用上出風(fēng)下回風(fēng)結(jié)構(gòu)，通過變頻器調(diào)節(jié)電機轉(zhuǎn)速，降低箱體內(nèi)循環(huán)風(fēng)的風(fēng)速；①風(fēng)速降低到1m/s后，箱體內(nèi)的溫度均勻指標(biāo)與波動指標(biāo)在

• 高低溫快溫變試驗箱/高低溫快速循環(huán)試驗箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗箱/快速升降溫試驗機

  高低溫快溫變試驗箱/高低溫快速循環(huán)試驗箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗箱/快速升降溫試驗機 KWGDS系列簡介：本試驗箱適用于對產(chǎn)品（整機）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)及溫度篩選（ESS）試驗。本試驗箱可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗，其散熱功率不能**過試驗箱制冷量，因制冷量為動態(tài)值，其隨溫度點變化而有所變化，同時，較高濕度也會因散熱

• 冷熱沖擊試驗箱可用于半導(dǎo)體芯片的測試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時元器件體積發(fā)生