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詞條說明
一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗(yàn):加速測試:在半導(dǎo)體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會改變觀察時(shí)間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認(rèn)證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán):根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn),溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進(jìn)行該測試時(shí),將部件反復(fù)暴露
【報(bào)警的原因是什么?】一、制冷系統(tǒng)發(fā)生異常1.壓縮機(jī)**壓報(bào)警。在制冷劑壓力**過設(shè)定值時(shí),設(shè)備會停止工作并報(bào)警,報(bào)警后需要技術(shù)人員排查故障原因,確認(rèn)原因后手動進(jìn)行復(fù)位。2.壓縮機(jī)過熱報(bào)警。當(dāng)壓縮機(jī)的線圈過熱、線路的供電異常的時(shí)候,設(shè)備會停機(jī)報(bào)警。3.循環(huán)冷卻水缺水報(bào)警。當(dāng)冷卻循環(huán)水系統(tǒng)的水不足時(shí),設(shè)備會停機(jī)并報(bào)警,這時(shí)就需要手動加足水量并且復(fù)位,復(fù)位后設(shè)備才可正常運(yùn)行。4.電源缺相,相序報(bào)警。當(dāng)設(shè)備
高低溫試驗(yàn)箱是一種高精度的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,常見的故障包括:1. 溫度控制不準(zhǔn)確:可能是因?yàn)闇囟葌鞲衅鲹p壞或校準(zhǔn)不正確,需要更換或重新校準(zhǔn)傳感器。2. 制冷系統(tǒng)故障:可能是因?yàn)橹评鋭┬孤嚎s機(jī)故障等原因?qū)е轮评湎到y(tǒng)故障,需要檢查并進(jìn)行維修。3. 加熱系統(tǒng)故障:可能是因?yàn)榧訜崞鲹p壞或電路故障導(dǎo)致加熱系統(tǒng)故障,需要更換或修復(fù)加熱器或電路。4. 濕度控制不準(zhǔn)確:可能是因?yàn)闈穸葌鞲衅鲹p壞或校準(zhǔn)不正確,需要更換或
? ? ? ? 高低溫檢測試驗(yàn)箱因?yàn)榫哂懈邷貦z測,低溫檢測,高低溫循環(huán)系統(tǒng)檢測、高低溫高矮濕等實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),在高溫標(biāo)準(zhǔn)下,如做150℃較端化高溫和98%環(huán)境濕度狀況下,實(shí)驗(yàn)室內(nèi)外的壓力差大幅度擴(kuò)大,此刻就磨練試驗(yàn)箱體的密閉性做的怎樣的難題了。如密閉性不太好,會造成比較嚴(yán)重的漏汽,危害溫度的精密度和勻稱度。 那么導(dǎo)致高低溫檢測試驗(yàn)箱密閉性難題的有什么原因呢? 一,
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