美國MICROTRAC原位分析儀-Nanotrac Flex

時間：2022-01-12

作者：天津瑞利光電科技有限公司

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德國Jenoptik飛秒激光器-JenLas femto系列
天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷德國Jenoptik飛秒激光器JenLas femto系列產(chǎn)品型號：JenLas femto 10關鍵字：Jenoptik飛秒激光器JenLas femto系列關鍵字描述：產(chǎn)品介紹：550飛秒脈沖寬度自由快速調(diào)整脈沖重復率單脈沖至510 kHz高達100μJ的脈沖能量一個光束出口，用于紅外和綠色光學配件，例如圓形，偏振，擴束鏡，F(xiàn)-Theta鏡頭堅固的整體腔溫度范圍
美國Pranalytica激光器--1101-46-HP-XXXX型
天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Pranalytica激光器1101-46-HP-XXXX型品牌介紹：Pranalytica于2000年開始運營，位于美國加利福尼亞州，其主要目的是通過研發(fā)和對客戶需求的透徹了解來提供產(chǎn)品及解決方案。在起初的幾年中，該公司在基于可調(diào)諧激光光譜的氣體傳感領域確立了地位。如今，Pranalytica已成為**范圍內(nèi)向半導體生產(chǎn)線和環(huán)境監(jiān)測提供微量氣體傳感器的關鍵供應
德國SIOS校準干涉儀SP 15000 C5
天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷德國SIOS校準干涉儀SP 15000 C5產(chǎn)品型號：SP 15000 C5產(chǎn)品介紹：在調(diào)整和對齊機器軸時對導軌特性進行高精度動態(tài)檢測以及符合標準的軸校準非常費力和耗時。校準激光干涉儀 SP 15000 C5 的開發(fā)旨在滿足機器和設備制造商的需求。這可以實現(xiàn)同步、連續(xù)的 5 DOF 測量。使用激光干涉儀高精度記錄所有參數(shù)長度、俯仰角、偏航角和直線度，從而在所有三個
MICROTRAC動態(tài)圖像分析儀PartAn 3-D
美國MICROTRAC動態(tài)圖像分析儀PartAn 3-D天津瑞利光電科技有限公司經(jīng)銷MICROTRAC動態(tài)圖像分析儀。 ?產(chǎn)品詳情：動態(tài)圖像分析儀 PartAn 3-D描述：PartAn3D可以在一次快速分析中測量材料的40個形態(tài)參數(shù)，包括尺寸，形狀，表面粗糙度，密度，透明度，當然還有3D。 PartAn3D可測量尺寸范圍為22微米至35毫米的顆粒。?特點：- 表征您的材料的4