詞條
詞條說明
非飽和加速壽命試驗(yàn)箱(又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī))主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的:提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度、氣壓)與工作應(yīng)力(如:電壓、負(fù)荷等)加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的
1、低溫降不到或無法降溫①壓縮機(jī)損壞或未開啟,更換壓縮機(jī)及檢查控制壓縮機(jī)線路及控制元器件是否損壞②制冷劑泄漏,用氮?dú)鈾z漏法找出漏點(diǎn),焊接,抽真空,加入制冷劑,重新調(diào)試③電磁閥動(dòng)作異常,更換電磁閥,檢查電磁閥控制線路④毛細(xì)管堵塞,更換毛細(xì)管,更換干燥過濾器,用氮?dú)獯蹈蓛衾淠到y(tǒng)雜質(zhì),加入制冷劑調(diào)試⑤冷凝器結(jié)冰,升溫?zé)上鋬?nèi)水分,在降溫2、高低溫試驗(yàn)箱不升溫或高溫達(dá)不到①加熱管損壞(更換即可)②固態(tài)繼
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品貯存環(huán)境指南
?多數(shù)半導(dǎo)體電子元器件都需要在干燥條件下作業(yè)和存放,潮濕的環(huán)境會(huì)腐蝕損壞各類敏感的半導(dǎo)體電子元器件,精密光學(xué)器件等,特別是當(dāng)半導(dǎo)體電子元器件、芯片等原料長(zhǎng)期暴露在高濕空氣環(huán)境中時(shí),如果不及時(shí)采取有效的防潮措施就會(huì)導(dǎo)致元件報(bào)廢,并且非常多電子元件是半導(dǎo)體設(shè)備的**零件,這樣將會(huì)直接損壞設(shè)備,影響設(shè)備的正常使用,半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)的工廠一般的溫濕度條件為:=22±2°,=45±5%。用合理儲(chǔ)存方
紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)(Q8UV老化機(jī))
您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽光和水份是戶外產(chǎn)品的較大敵人,Q8 能模擬陽光、雨露造成的損害,符合多項(xiàng)**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點(diǎn)。Q8采整體式設(shè)計(jì),可程控設(shè)定每天 24小時(shí)每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗(yàn)。只要幾天或數(shù)星期的時(shí)間,就可再現(xiàn)室外幾個(gè)月、甚至數(shù)年時(shí)間才會(huì)發(fā)生的損傷,包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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