環(huán)境試驗(yàn)與環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備相關(guān)其他(基礎(chǔ))標(biāo)準(zhǔn)目錄

時(shí)間：2016-11-18作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：212

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的選擇原則與操作注意事項(xiàng)

  ? 兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的選擇依據(jù)其實(shí)很簡(jiǎn)單，主要的選擇依據(jù)是工程產(chǎn)品的試驗(yàn)規(guī)范和試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)以及一些原則。其中需要遵循的5條原則，主要包括可重復(fù)性、再現(xiàn)性、可測(cè)控性、排它性、安全可靠性。? 可重復(fù)性是：一臺(tái)兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備可能用于同一類型產(chǎn)品的多次試驗(yàn)，而一臺(tái)被試的工程產(chǎn)品也可能在不同的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中進(jìn)行試驗(yàn)，被兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)產(chǎn)品的應(yīng)力水平(如熱應(yīng)力、振

• TS蓄熱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱

  TS蓄熱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱 特點(diǎn) 分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)完全靜止，采用*特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試； 可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件； 大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然； 全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式**低溫冷凍系統(tǒng)； 具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接

• 高低溫試驗(yàn)箱溫度達(dá)不到設(shè)定值該如何解決?

  高低溫試驗(yàn)箱溫度達(dá)不到設(shè)定值原因以及解決方案： 1.高低溫試驗(yàn)箱設(shè)定的溫度達(dá)不到有可能是換電加濕管壞了?？梢韵嚷?lián)系廠家上門(mén)維修或較直接更換新的高低溫試驗(yàn)箱。高溫試驗(yàn)中如溫度變化達(dá)不到設(shè)置度值時(shí)，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排查故障。 2、也有可能是溫度探頭壞了，造成在水溫**設(shè)定溫度也就是37度時(shí)設(shè)備不工作。 3、溫度采集系統(tǒng)延遲時(shí)間太長(zhǎng)或者加溫管老化及損壞，造成實(shí)際水溫**37度時(shí)，設(shè)備還沒(méi)有工作，或

• 芯片需要提前進(jìn)行烘烤處理嗎?

  在芯片生產(chǎn)過(guò)程中，可以通過(guò)合理的烘烤去除芯片表面的水分和其他物質(zhì)，通過(guò)烘烤，為**后面的焊接等重要工序，確保質(zhì)量，提高可靠性，并保護(hù)芯片的完整性，所以芯片的烘烤預(yù)處理是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。一、去除水分和其他有害物質(zhì)????在芯片制造過(guò)程中，芯片可能會(huì)暴露在潮濕的環(huán)境中，吸收大量水分。水分的存在會(huì)對(duì)焊接過(guò)程產(chǎn)生不利影響，例如會(huì)導(dǎo)致焊接接頭氣泡、焊接不牢固等問(wèn)題