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UV-A紫外輻照計(單通道) 該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 主要性能指標: * 波長范圍及峰值波長 (二者擇其一) (1)UV-365探頭(光譜響應曲線見圖) λ:(320~400)nm; λP=365nm (2)UV-420探頭(光譜響應曲線見圖) λ:(375~475)nm; λP=420nm * 輻照度測量范圍
PL4001-L精密天平 經(jīng)典系列PL-L天平提供便攜式天平所需的一切,并具有較高的性價比。 功能和特點 緊湊性:便捷,緊湊的設計。 高性價比:具有天平該有的所有基本功能和特點。 實用性:操作簡單。 標準特性: 應用程序: 內(nèi)置的過載保護功能 符合各標準準的AC適配器 下掛稱量的**掛鉤 計件稱量 百分比稱量 可選的顯示增量實現(xiàn)快速稱量 可在各種稱量單位之間進行切換:g, kg, mg, ct,
江西XF-4XC型倒置金相顯微鏡/超聲波探傷儀/粗糙度儀價格
產(chǎn)品型號:XF-4XC 產(chǎn)品名稱:XF-4XC型倒置金相顯微鏡 產(chǎn)品貨號:XF-4XC 產(chǎn)品價格:0 產(chǎn)品品牌:星楓儀器 產(chǎn)品類別:物理性質(zhì)檢測儀器 一、用途: 4XC金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結構組織,它是金屬學研究金相的重要儀器,是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關鍵設備,主要用以鑒別和分析各種金屬及合金的組織結構,應用于工廠或實驗室進行鑄件質(zhì)量鑒定,原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究
詳細說明 erichsen548測厚儀測量原理: 通過進行標準的楔形切割方法進行測量。在這種情況下,試樣以一個規(guī)定的角度進行切割。通過切割面的投影寬度利用簡單的幾何關系可計算出涂層的厚度。將涂層的破壞控制為一個非常小的錐形孔如圖所示。在測量顯微鏡中,可見一系列的同心圓,使用測量顯微鏡測量同心圓的半徑差值,再乘一個已知系數(shù)便可計算出膜厚。 特別對鉆孔敏感的產(chǎn)品,主要是硬易碎的產(chǎn)品,這些產(chǎn)品可能因鉆
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經(jīng)理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點西路44號
郵 編: 330001
網(wǎng) 址: 0a05e41548.cn.b2b168.com
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